«Формирование контрольных тестов для схемы на логических элементах»

Московский институт электроники и математики

Департамент электронной инженерии

Дисциплина

«Измерение и контроль параметров электронных компонентов и средств»

ОТЧЕТ

по практическому занятию № 3

«Формирование контрольных тестов для схемы на логических элементах»

Выполнил: студент группы МНКТ 211-____ _____________ / /

подпись расшифровка подписи

«26» сентября 2022 г.

Проверил: ст. преподаватель _____________ / Королев П. С. /

подпись расшифровка подписи

«__» __________ 2022 г.

Москва, 2022

Аннотация

Целью данной работы является получение навыков для формирования контрольных тестов для схемы на логических элементах.

Лабораторная работа №3 была частично выполнена в ПО Multisim 14, так же в виде работы на семинаре и обсуждений и вычислений группами.

Также были изучены два правила проверки на 1 и 0.

Ход практического занятия

Работа выполнялась в ПО Multisim 14.

Рисунок 1. Схема электрическая принципиальная объекта исследования. Оригинал

Рисунок 2. Схема электрическая принципиальная объекта исследования, сформированная в ПО Multisim

Входные переменные: {x_i}, i=1…6

Выходные переменные: {y_j}, j=1…6

Элементы: {a_k}, k=1…6

{a_k}→ {y_j}- уравнение непосредственных связей (слева → направо)

y₆ = x₂*x₃

y₅ = x₅*x₆

y₄ = x₁˅ y_{6 =}x₁˅ x₂*x₃

y₃ =

y₂ =

y₁ =

y_вых=1

y_вых= [4*2]¹

y_вых= [[x₁˅ 6]⁴*[3˅ 5]²]¹

y_вых= [[[x₁˅ [x₂* x₃]⁶]⁴* ˅ [x₅* x₆]⁵]²]¹

y_вых=

Таблица 1. Таблица пути

Путь
№ пути

y_вых=

Таблица 2. Таблица проверки на 0

	X₁	X₂	X₃	X₄	X₅	X₆	Y
X₁→ 0			X
X₂→ 0
X₃
X₄						X
X₅			X
X₆			X

Таблица 3. Таблица проверки на 1

	X₁	X₂	X₃	X₄	X₅	X₆	Y
X₁→ 1			X
X₂→ 1				X
X₃				X
X₄						X
X₅				X
X₆	X			X

Выводы

В ходе исследования были получены навыки для формирования контрольных тестов для схемы на логических элементах. Также были изучены правила для проверки на 0 и 1.