- Автоматизация
- Антропология
- Археология
- Архитектура
- Биология
- Ботаника
- Бухгалтерия
- Военная наука
- Генетика
- География
- Геология
- Демография
- Деревообработка
- Журналистика
- Зоология
- Изобретательство
- Информатика
- Искусство
- История
- Кинематография
- Компьютеризация
- Косметика
- Кулинария
- Культура
- Лексикология
- Лингвистика
- Литература
- Логика
- Маркетинг
- Математика
- Материаловедение
- Медицина
- Менеджмент
- Металлургия
- Метрология
- Механика
- Музыка
- Науковедение
- Образование
- Охрана Труда
- Педагогика
- Полиграфия
- Политология
- Право
- Предпринимательство
- Приборостроение
- Программирование
- Производство
- Промышленность
- Психология
- Радиосвязь
- Религия
- Риторика
- Социология
- Спорт
- Стандартизация
- Статистика
- Строительство
- Технологии
- Торговля
- Транспорт
- Фармакология
- Физика
- Физиология
- Философия
- Финансы
- Химия
- Хозяйство
- Черчение
- Экология
- Экономика
- Электроника
- Электротехника
- Энергетика
«Формирование тупиковых тестов для цифровых схем на логических элементах»
Московский институт электроники и математики им. А. Н. Тихонова
Департамент электронной инженерии
Дисциплина
«Измерение и контроль параметров электронных компонентов и средств»
ОТЧЕТ
по практическому занятию № 4
«Формирование тупиковых тестов для цифровых схем на логических элементах»
Выполнил: студент группы МНКТ 211-____ _____________ / /
подпись расшифровка подписи
«__» _________ 2022 г.
Проверил: ст. преподаватель _____________ / Королев П. С. /
подпись расшифровка подписи
«__» __________ 2022 г.
Москва, 2022
АННОТАЦИЯ
Цель работы - это изучение тупиковых тестов и получение навыков их формирования для цифровых схем на логических элементах.
В данной лабораторной работе была выполнена работа с электрической потенциальной схемой объекта в ПО Multisim 14, построены таблица функций неисправности, таблица неисправности, таблица поглощений.
Были изучены правила формирования таблицы поглощения.
Ход практического занятия
Multisim является программой с многооконным графическим интерфейсом, позволяющим строить и редактировать схемы, модели и изображения компонентов, а также представлять результаты расчетов в удобном графическом виде.
Тупиковый тест – это тест, у которого если удалить часть входных наборов, то сразу уменьшится полнота контроля.
Рисунок 1. Схема электрическая принципиальная объекта исследования. Оригинал
Рисунок 2. Схема электрическая принципиальная объекта исследования, сформированная в ПО Multisim
Неисправности:
| M1→ S8-1 | M4→ S16-0 | M7→ S8-0 |
| M2→ S9-1 | M5→ S13-1 | M8→ S9-0 |
| M3→ S16-1 | M6→ S13-0 | M0→ исправное состояние |
Таблица 1. Таблица функций неисправностей
| A | B | C | M0 | M1 | M2 | M3 | M4 | M5 | M6 | M7 | M8 |
Таблица 2. Таблица неисправностей
| A | B | C | M0 | M1 | M2 | M3 | M4 | M5 | M6 | M7 | M8 |
Таблица 3. Таблица поглощений
| A | B | C | M0 | M1 | M2 | M3 | M4 | M5 | M7 | M8 |
Выводы
В результате выполнения данной работы, были получены навыки формирование тупиковых тестов для цифровых схем на логических элементах. Для этого была сформирована таблица функций неисправности, основываясь на которой была получена таблица неисправностей путем сравнения исправного состояния с неисправными.
Итогом всей работы стала таблица поглощений, которая строится по правилу: «Удаляются поглощаемые строки и поглощающие столбцы». Основываясь на ней, мы можем сделать вывод о том, что неисправность М6 мы выявить при данном входном наборе не можем.
|
|
|
© helpiks.su При использовании или копировании материалов прямая ссылка на сайт обязательна.
|