Хелпикс

Главная

Контакты

Случайная статья



Экспериментая часть

⇐ ПредыдущаяСтр 2 из 2


Табльца 1 – подготовлены материалы.

№ Состав Температура отжига
CeO2+ f. soot Ta=400
CeO2 Ta=400
CeO2 Ta=850

С помощью сканирующей электронной микроскопии, получили фотографии микроструктуры образцы. При различных температурах отжига, Ta=850 размеры частицы образца меньше чем Ta=400 . При однотемпературе 400 , образец 1, который добавляли фуллерены, полученный размеры частицы меньше чем образец 2 без фуллеренов.

а б
в г
д е

Рис. 1. Микроструктура образца 1 (Ta=400): CeO2+ f. soot

 

а б
в г
д е

Рис. 2 (продолжение). Микроструктура образца 2 (Ta=400): CeO2
ж з

Рис. 2. Микроструктура образца 2 (Ta=400): CeO2

а б
в г
д е
ж з
 
и  

Рис. 3. Микроструктура образца 3 (Ta=850): CeO2

Рис. 4. Площади полученного образца 1 с помощью программы Digimizer (Ta=400): CeO2

Табльца 2 – Данныеполученногообразца 1

Measurem Area Perimeter Avg. Intensity length Unit
Unit       81. 00 pixels
Area 20. 45 40. 98 0. 508   cm
Area 7. 46 29. 75 0. 451   cm
Area 42. 97 137. 57 0. 263   cm
Area 4. 81 45. 79 0. 285   cm
Area 20. 97 43. 09 0. 253   cm

Табльца 3 – Данные полученного образца 1

Tool Measurem n Mean SD Min Max
Area Area 19. 291 15. 117 4. 807 42. 968
  Perimeter 59. 435 44. 103 29. 751 137. 571
  Avg. Intensity 0. 352 0. 119 0. 253 0. 508

 

Рис. 5. Площади полученного образца 2 с помощью программы Digimizer(Ta=400): CeO2 + f. soot

Табльца 4 – Данные полученного образца 2

Measurem Area Perimeter Avg. Intensity length Unit
Unit       81. 000000 pixels
Area 6. 176650 24. 055903 0. 594724    cm
Area 10. 044201 33. 500036 0. 600930    cm
Area 23. 304374 29. 170274 0. 641173    cm
Area 5. 225956 12. 422073 0. 631235    cm
Area 14. 193720 20. 442066 0. 569971    cm
Area 8. 360006 19. 990603 0. 591376    cm
Area 8. 859168 20. 607887 0. 620568    cm
Area 5. 113550 15. 839070 0. 590572    cm
Area 24. 277930 69. 617921 0. 354013    cm
Area 11. 095870 23. 050701 0. 640793    cm
Area 24. 931413 28. 029207 0. 646532    cm
Area 3. 396967 16. 079779 0. 551775    cm
Area 3. 033074 28. 059163 0. 340079    cm
Area 4. 128563 29. 440939 0. 371063    cm
Area 4. 713458 22. 404967 0. 303408    cm
Area 45. 581847 74. 134685 0. 621972    cm
Area 6. 529111 12. 771262 0. 609446    cm
Area 11. 271148 26. 436677 0. 608127    cm
Area 11. 825560 38. 096828 0. 579809    cm
Area 16. 729538 31. 067059 0. 634479    cm
Area 8. 331428 36. 100338 0. 575582    cm
Area 15. 047249 36. 293544 0. 603299    cm
Area 19. 724508 36. 781167 0. 611375    cm
Area 9. 276406 36. 133927 0. 576146    cm
Area 3. 848499 10. 043869 0. 606676    cm
Area 20. 995275 27. 037037 0. 432570    cm

Табльца 5 – Данные полученного образца 2

Tool Measurem n Mean SD Min Max
Area Area 13. 628 10. 631 3. 033 45. 582
  Perimeter 34. 025 23. 956 10. 044 137. 571
  Avg. Intensity 0. 525 0. 129 0. 253 0. 647

Рис. 6. Площади полученного образца 3 с помощью программы Digimizer (Ta=850): CeO2

Табльца 6 – Данные полученного образца 3

Measurem Area Perimeter Avg. Intensity length Unit
Unit       79. 500000 pixels
Area 5. 923421 15. 818985 0. 436542    cm
Area 5. 824532 19. 914123 0. 422803    cm
Area 17. 384597 55. 926706 0. 416093    cm
Area 4. 608204 16. 840535 0. 266710    cm
Area 11. 014200 18. 196280 0. 411085    cm
Area 7. 119972 28. 171763 0. 281119    cm
Area 5. 169890 25. 586058 0. 264084    cm
Area 3. 921918 16. 699488 0. 406089    cm
Area 14. 801630 66. 972138 0. 415801    cm
Area 17. 246153 37. 377268 0. 443575    cm
Area 40. 409794 78. 889134 0. 444522    cm
Area 5. 571378 22. 374041 0. 412909    cm
Area 7. 893280 16. 782111 0. 434392    cm
Area 6. 257664 20. 610417 0. 414521    cm
Area 15. 592738 49. 284426 0. 371177    cm
Area 21. 795024 27. 547170 0. 420279    cm

Табльца 7 – Данные полученного образца 3

Tool Measurem n Mean SD Min Max
Area Area 13. 043 10. 172 3. 033 45. 582
  Perimeter 33. 442 22. 438 10. 044 137. 571
  Avg. Intensity 0. 479 0. 127 0. 253 0. 647

Вывод:

Микроскопические методы анализа являются достаточно простыми и очень информативными методами изучения дисперсного состава различных материа- лов. Они широко используются для исследования формы, размеров частиц, их морфологии, изучения их строения и структуры. Современные типы микроскопов позволяют изучать частицы размером до 1 нм, что открывает широкие возможности исследования различных классов дис- персных материалов. Определялимикроструктуры и размеры частицы оксида церии с помощью сканирующей электронной микроскопии и программы Digimizer.

 


⇐ Предыдущая12
  

© helpiks.su При использовании или копировании материалов прямая ссылка на сайт обязательна.