![]()
|
|||||
КЛАСИЧНА ТА. КВАНТОВА. ОПТИКА. ОСНОВИ СТАТИСТИЧНОЇ ФІЗИКИ ТА ТЕРМОДИНАМІКА. ФІЗИКА ТВЕРДОГО ТІЛАКЛАСИЧНА ТА КВАНТОВА ОПТИКА (ауд. 311) | 4.1. | Визначення довжини світлової хвилі методом інтерференційних кілець Ньютона. | |||
29. | 4.2. | Визначення сталої Планка з явища фотоефекту. | |||
30. | 4.3. | Визначення довжини хвилі світла за допомогою дифракційної гратки. | |||
31. | 4.4. | Дослідження поляризованого світла та перевірка закону Малюса. | |||
32. | 4.5. | Визначення сталої Стефана-Больцмана. | |||
33. | 4.6. | Визначення концентрації оптично активної речовини (цукру) в розчині. | |||
34. | 4.7. | Вивчення дифракції на одно- і двовимірній дифракційних гратках у лазерному промені | |||
35. | 4.8. | Визначення кута розходження лазерного променя та розподілу енергії в ньому. | |||
36. | 4.9. | Експериментальне вивчення закону поглинання світла ( Бугера-Ламберта). | |||
37. | 4.10. | Визначення довжини хвилі лазерного випромінювання метеодом Юнга. | |||
38. |
ОСНОВИ СТАТИСТИЧНОЇ ФІЗИКИ ТА ТЕРМОДИНАМІКА (ауд. 304) | 5.1. | Визначення коефіцієнта в’язкості рідини методом Стокса. | ||
39. | 5.2. | Визначення коефіцієнта теплопровідності діелектриків методом регулярного режиму. | |||
40. | 5.3. | Визначення ентропії при нагріванні та плавленні олова. | |||
41. | 5.4. | Визначення середньої довжини вільного пробігу та ефективного діаметру молекул повітря. | |||
42. | 5.5. | Визначення відношення g = Сз/СV для повітря. | |||
43. | 5.6. | Визначення середнього коефіцієнта лінійного розширення методом Д.І. Менделєєва | |||
44. | 5.7. | Визначення коефіцієнта теплопровідності повітря | |||
45. |
ФІЗИКА ТВЕРДОГО ТІЛА (ауд. 306) | 6.1. | Тунельний діод. | ||
46. | 6.2. | Знімання статистичних характеристик напівпровідникового тріоду. | |||
47. | 6.3. | Визначення ширини забороненої зони. | |||
48. | 6.4. | Вивчення принципу роботи та параметрів напівпровідникового стабілітрону. | |||
49. | 6.5. | Дослідження властивостей фотоелементу. | |||
50. | 6.6. | Вивчення залежності ВАХ напівпровідникових діодів від температурного режиму | |||
51. | 6.7. | Визначення часу життя нерівноважних носіїв заряду в напівпровідникових фотоелементах. | |||
52. | 6.8. | Вивчення властивостей напівпровідникового тиристору | |||
53. | 6.9. | Дослідження характеристик напівпровідникового матеріалу за допомогою ефекту Хола | |||
54. | 6.10. | Вивчення властивостей польового напівпровідникового транзистора | |||
55. | 6.11. | Дослідження ємнісних властивостей p-n- переходу |
|
© helpiks.su При использовании или копировании материалов прямая ссылка на сайт обязательна.
|
|