ОРЕДЕЛЕНИЕ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ТВЕРДЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ (ЭЛЕКТРОИЗОЛЯЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ) НА ВЫСОКИХ ЧАСТОТАХ

Кафедра ФТЭМК

Лабораторная работа №4

ОРЕДЕЛЕНИЕ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ТВЕРДЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ (ЭЛЕКТРОИЗОЛЯЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ) НА ВЫСОКИХ ЧАСТОТАХ

Выполнили:	Балаев Павел Баннов Андрей Вайнюнский Данила Глушко Алиса Беляева Ангелина
Группа:	ЭР-02-19
Проверил:

Москва 2020

Цель работы — определение диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь различных электроизоляционных материалов в зависимости от изменения частоты электрического поля, а также ознакомление с одним из стандартных методов определения этих диэлектрических характеристик.

В работе для определения ε диэлектриков на высоких частотах используется резонансный метод измерения емкости и добротности конденсаторов с помощью измерителя добротности (куметра). Резонансная частота колебательного контура зависит от его индуктивности и емкости:

𝑓 = 2𝜋√𝐿С

Измерительный прибор состоит из генератора высокой частоты (ГВЧ), колебательного контура и индикатора резонанса — электронного вольтметра (рис. 1).

Рисунок 1

tgδ =

𝜀 = 𝑘 ∙ C𝑥

(Q2 – Q1)С2 Q1Q2. (С2 – С1)

Образец 1

𝑓, МГц	0.3	0.4	0.7	0.9		1.1	1.7
С1,пФ		59.5	175.5	105.8	86.7	71.3		187.7	174.2
Q1
С2,пФ	88.9	37.4		84.3	65.1		236.8	166.4	152.7
Q2
Сx, пФ	17.1	22.1	21.5	21.5	21.6	21.3	22.2	21.3	21.5
tgδ	0.0016	0.0017	0.0009	0.0007	0.0011	0.0006	0.0016	0.0010	0.0020
𝜀	2.03	2.63	2.56	2.56	2.57	2.53	2.52	2.53	2.56

Параметры образца:

Dизол = 2.2 мм

d = 0.3 мм

L = 0,3 м

k = 0.119

Образец 2

𝑓, МГц	0.06	0.07	0.1	0.3	0.7		1.7
С1, пФ	307,5	227,5	110,1		175,5	86,7		187.7	174.2
Q1
С2, пФ	277,5	198.8	82.4	84.7	149.1		232.7	162.2
Q2
Сx, пФ		28.7	27.7	21.3	26.4	25.7	26.3	25.5	24.2
tgδ	0.095	0.090	0.089	0.099	0.066	0.065	0.053	0.057	0.05
𝜀	3,50	3.41	3.30	2.53	2.95	2.87	2.95	2.86	2.71

Параметры образца:

𝐷изол = 3.9 мм

𝑑 = 1.8 мм

12 Следующая ⇒