Хелпикс

Главная

Контакты

Случайная статья





а) дифракция на кругом отверстии



а) дифракция на кругом отверстии

Разбивка на зоны Френеля покажет, что в зависимость от размера отверстия в нем уложится большее или меньшее число зон. Если открыто нечетное число зон, то действия в точке В больше чем в отсутствие экрана. Для точек плоскости  АВ вследствие симметрии всего расположения вокруг линии АВ распределение света должно симметрично, т.е. области одинаковой освещенности должны располагаться кольцеобразно около точки В.

Если отверстие открывает нечетное число зон, то в центре светлое пятно. Если четное, то в центре экрана темнота.

б) Дифракция на круглом экране

Если размер экрана мал то действие 1-ой открытой зоны почти не отличается от действия центральной зоны волнового фронта. Таким образом, освещенность в В будет ≈ такой же как и в отсутствии экрана. Вследствие симметрии относительно АВ светлая точка в В окружена кольцевыми зонами тени и света (вне границ геометрической тени).

 в) Дифракция на краю полубесконечного экрана.

Решаем задачу путем разбиения поверхности волны на зоны так, что ,  отличаются на  и затем  из A проведем плоскости параллельные ребру экрана через

Площади  таких лупок относятся как 1:0,41:0,32:0,27:0,22…..

Векторная диаграмма для точки В на линии перпендикулярна краю экрана.

По мере того как точка В будет смещаться параллельно экрану в сторону освещенной части пространства. Будет открываться новые зоны. Если удалиться от края экрана так, что его действие можно не учитывать, то векторная диаграмма будет спиралью Корню.

    

             Дифракция Фраунгофера.

До сих пор мы рассматривали дифракцию сферическую (или плоских) волн и изучали дифракционную картину на конечном расстоянии от препятствия (дифракция Френеля). При больших удалениях от экранам с неоднородного (например, со щелью), на поверхности щели уложиться лишь часть первой зоны Френеля. Тип дифракции,   при котором рассматривается дифракционная картина образованная параллельными лучами называется дифракцией Фраунгофера. Например

Такой тип дифракции можно рассматривать математически до конца.

Помещая между линзами разные экраны, мы меняем характер дифракционной картины, являющейся изображение источника.

                       

                       Дифракция на щели.

     Пусть волна попадает нормально к площади щели. Разобьем площадь щели на ряд узких полосок  равной ширины. Каждая из них может рассматриваться как источник волн, причем фазы всех этих волн одинаковы. Амплитуды также одинаковы. Это упрощает решение задачи.

Графически результат сложения амплитуд для любой точки экрана:

а) . При  элементарные волны не приобретают никакой разности фаз. Результирующая амплитуда

б)  направление φ при котором крайние элементы волнового фронта в пределах щели дают разность фаз =π, т.е разность хода = .т.е .

Так как амплитуда от всей щели =  или по  - к вектору амплитуды, т.е. .

в) если разность хода лучей от краев щели =λ, т.е. соответствует , то S=0. Нетрудно видеть, что S=0 и для разностей хода 2 λ,3 λ,….,т.е.min соответствует направлениям

 разобьем щель  на полоски и изобразим цепочку соответствующих элементарных векторов для определенного угла дифракции φ. Так как  , то разность фаз  .

Последний вектор цепочки относительно 1- ого повернуть на угол  .

длина цепочки = (амплитуда подающего света)

А – результирующий вектор, 2πR- длина всей окружности, - часть окружности изображенной на рисунке. Её длина будет но это = , т.е

Из Δ получим , т.е.   но  ,т.е.  отсюда

 , но

 

т.е.  или

                                                 

Для аналитического расчета интенсивности света щелью, напишем выражение для волны, посылаемый каждым элементом волнового фронта и просуммируем действие всех элементов. Амплитуда волны от одного элемента ~ его ширине dx, т.е = cdx. Величину с найдем из условия, что в направлении φ=0 амплитуда воны =  или cb= .т.е. . Таким образом, возмущения в соответствующем участке щели

  Для отыскания действия всей щели в направлении φ надо учесть разность фаз, характеризующую волны, доходящие от разных элементов волнового фронта до .

Проведем плоскость FD перпендикулярно к направлению нормалей дифрагировавших волн.

Разность хода от А и от N есть . Тогда световое возмущение в точке Р будет , где  волновое число.

Результирующее возмущение в точке  определиться как сумма этих выражений:

. Таким образом, амплитуда волны в направлении φ     (*)

Так как обычно φ мал, то   т.е вдоль экрана с изменением φ освещенность меняется проходя через min и max.

Из (*) следует, что  для углов φ удовлетворяющему условию ,  или  наибольший max при:  тогда  из (*)

Следующие max , получаем из условия экстремума .

Расчет дает

 Численные значения интенсивностей главного и следующих max относиться как  1:0,045=0,016….

В первом приближении можно считать угловые max более простым  в случае b>>λ решение (Рэлей 1897)и для b~λ Морзе и Рубинштейн (1938).расчеты полученному и потому нет заметных ошибок для дифракционных  решеток.

             

                   Дифракционная решетка.

     Например, две щели дадут одинаковые, накладывающиеся друг на друга дифракционные картины.

За счет этого max усилится. Однако, картина сложнее, т.е. надо принять во внимание взаимную интерференцию волн идущих от 1-ой и 2-ой щели.

 

 

 Очевидно,  min будет на тех же местах, т.е. те направления, по которым ни одна из щелей не посылает света не получит его и при 2-х щелях. Кроме того, возможны направления, в которых колебания, посылаемые двумя щелями, взаимно уничтожаются , т.е. направления которым соответствует разность хода  для волн идущих от соответственных точек обеих щелей. Например,

 т.е.

Наоборот, в направлениях действие одной щели усиливает действие другой, т.е главный max.

Полная картина:

Прежнее min

Добавочные min

Главный max

т.е. между двумя главными max будет становиться уже, чем от одной щели.

Система параллельных щелей называется дифракционной решеткой. Величина d=a+b называется постоянной решетки  число штрихов на единицу длины (n больше или равен 2000)

С учетом того, что разность фаз между колебаниями от соседних щелей.

. Амплитуды волны вместо (*) будет иметь :   

Таким образом, распределение интенсивности в дифракции картине зависит от 2-х сомножителей. Первый определяет дифракцию на одной щели. А второй – взаимодействие лучей от отдельных щелей.

В отличии от дифракции на одной щели, дифракционная картина на N  щелях характеризуется наличием острых max  которые наблюдаются при условии  (т.е знаменfтиль в формуле для  должен =0) или  добавочные min  будут при условии  или

Общая картина:

Прежнее min

Главные max

Добавочные min  т.е между двумя главными max располагается   добавочных min . Вторичные max  очень слабы <  от главного.

Угловые расстояния между главным max и соседним min определяется требованием. Чтобы разность хода взросла на , т.е.  или  и

При небольших углах дифракции (cosφ≈1)резкость главных максимумов не зависит от порядка спектра и равна, т.е. тем лучше. Чем больше λN . т.е общая ширина решетки.

Разрешающая способность – возможность различить максимумы близких волн  и .

Для главного max

Условия min sin

Если max второй волны виден под углом больше или меньше , то его можно увидеть. так как , то  отсюда - разрешающая способность, определяется порядком (m) и числом штрихов  (N).

У лучших решеток ~  и возможно разделить две волны, длины волн которых отличаются на  м.

Существуют также фазовые решетки, позволяющие концентрировать до  энергии в какой-либо ненулевой  главной max (например, отражающие).

               

           Дифракция рентгеновских лучей.

Большой интерес представляет дифракция на пространственных периодических структурах. Например, кристаллы, где можно  наблюдать дифракцию рентгеновских волн, у которых λ соизмерима с межатомным расстоянием.

Впервые такой опыт поставлен по предложению Лауэ в 1912г. Причем оказалось, что за кристаллом на фотопластинке получилось центральное неотклонённое пятно и ряд закономерно расположенных пятен, распределенных в плоскости перпендикулярно от неотклоненного пучка рентгеновских лучей.   Таким образом, случай дифракции на 3-х мерной решетке. Здесь открывается возможность определения λ ренгентовских лучей, если известна структура решетки кристалла, кроме того наблюдая дифракцию лучей с известной λ возможно найти структуру кристалла(рентгеноструктурный анализ). Но всё это представляет сложную стереометрическую задачу.

Ограничимся простейшим видом дифракции в отраженных лучах, рассчитанным Вульфом и Брэггом в 1913 г. Пусть расстояние между атомными слоями есть d. Падающие рентгеновские лучи рассеиваются на нескольких атомных плоскостях в различных направлениях. При интерференции рассеянных волн можно найти направления, где интенсивность будет наибольшей. Для этого надо, чтобы разность хода между лучами, отраженными от соседних атомных плоскостей = целому числу λ, т.е. где  угол скольжения, дополняющей угол падения до .

   Дифракция на ультразвуковых стоячих волнах.

Пространственную решетку, на которой можно наблюдать дифракцию видимых световых волн можно осуществить на   ультразвуковых волнах. Например, в пластинке кварца или турмалина можно возбудить колебания  Гц.

Поместив такую пластинку в жидкость (ксилол) получим ультраакустические волны в жидкости. Упругая волна в жидкости - это волна сжатая и разрежения, т.е. и различного показателя преломления. Поэтому для света получается фазовая решетка. Если заставить ультраакустическую волну отражаться от дна сосуда, то образуется стоячая ультраакустическая волна, которая представляет собой периодическую структуру переменной плотности с периодом = длине ультраакустической волны.

 

Например, в ксилоле скорость акустической волны 1000  и при  из  т.е. получается фазовая решетка периодом 10 мкм.

Если пустить ультраакустические волны по 3-м направлением, то получим пространственную решетку.

В таких решетках показатель преломления меняется еще и с периодом волны, т.е.   раз в секунду. Это приводит к модуляции интенсивности дифрагировавшего света. Т.е если на ультраакустическую волну попадает свет с , то дифрагировавший свет будет иметь частоту , где N частота ультраакустической волны ~ .

Излучение дифракции света на ультраакустических волнах - важный метод исследования законов распространения этих волн в веществе.

    Понятие о голографииметод восстановления изображений без линз предложил и осуществил в 1948 году английский физик (венгр) Денис Габор.

Фиксируется полная информация о распределения амплитуды и фаз, волновых полей в отличие от фотографического метода, где фиксируется только распределение в пространстве интенсивности! Но именно фазы волн содержат в себе информацию о взаимном расположении частей источника света, о его удалении от приемника и т.д.

На голограмме регистрируется не само изображение предмета, а структура световой волны отраженной предметом.

 

В 1962 году Ю.Н.Денисюк предложил метод регистрации голограмм в толстых Эмульсиях, толще, чем расстояние между полосами интерференции регистрируемого поля. Это позволяет получать объемную дифракционную решетку, при освещении которой можно восстановить даже спектр излучения. Это позволяет при считывании изображения использовать обычный свет.

 

 

             Геометрическая оптика.



  

© helpiks.su При использовании или копировании материалов прямая ссылка на сайт обязательна.